TestE – Minitestsystem

Flexibel – Kostengünstig – Skalierbar

Skalierbar – Low-Cost bis hin zu High-Performance
Übertragbare und wiederverwendbare Testinhalte für agiles Testen

Architektur für analoge und digitale Tests

Anwendungsfall

LXI-Gerätesteuerung und Testcase-Validierung

In Kooperation mit der Rigol Technologies EU GmbH hat Viconnis ein innovatives Testkonzept für die Vorvalidierung von LXI Laborinstrumenten gestartet. Mittels der Testsoftware TestC und dem TestE Minitestsystem können ausgewählte Testsequenzen im Vorfeld automatisiert und dokumentiert werden, so dass der Kunde / Labornutzer seine gewünschten Testfunktionen durch Testautomatisierung besonders komfortabel und auf Basis der ergänzenden Testdokumentation reproduzierbar und übertragbar nutzen kann.

INTEGRATIVE TESTARCHITEKTUR

Frühzeitig Analysieren – Testen – Lernen

TestE Minitestsystem

Kommunikation über Ethernet, WLAN
Empfänger für TestC© Testinhalte
Ausführung der Testinhalte
Ergebnis Feedback von TestE zu TestC© zum Abgleich – Pass / Fail
Handover von nativen LXI-Rohdaten zu Testeinheiten (z.B.LXI-Geräte)

Kooperatives Testen mit mehreren TestE Minitestsystemen

Master / Multislave
Mehrere synchronisierte Analog / Digital Stimuli und Response
Just in Time- HW Stimuli für SW Tests

TestE als Testkontrolle und Testausführung

26 Channel GPIO – each driver or expect
Test speed > 1μs / 1MHz , 0v/3,3V digital,
Max 26 analog – out via pwm – 85kSample, max speed 160KS/s- 0.5s
Mini ATE, RPI und HW – Digital Pinelektrionik mit Treiber, Comparator, Active load

Testinstrumente – additiv für TestE

LXI Geräte z.B.
- Oszilloskope, Protokoll-Analyse, Trigger-Option
- Waveform Generator (AWG)
- Digital Power Supply – Sequence Kontrolle mit Trigger-Option

Extension Boards – additiv für TestE

DAC Basisboard – 30k Sampe/s 10bit, 5v, ADC DAC PI *
I2C i2c Expander: Vgl. HW Kontrolle, SW Kontrolle- Transistor – ANALYSE
Transistor / Analog Wave to Speaker
ADC-DAC 12bit, 2x Analog_out 0..2v/0..3.3v 150KS/s SPI 5.4us setup, 1us write
ADC 1xch, 12bit max. Sample 75MS max. Speed 100KS/ch*

*) in Vorbereitung

N

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Flyer

TestE-Raspberry PI Minitestsystem – deutsch

Innovatives Testsystem
zur Testanalyse und Testausführung