TestE – Minitestsystem
Flexibel – Kostengünstig – Skalierbar
- Skalierbar – Low-Cost bis hin zu High-Performance
- Übertragbare und wiederverwendbare Testinhalte für agile testing
Architektur für analoge und digitale Tests
Use case
LXI-Gerätesteuerung und Testcase-Validierung
In cooperation with Rigol Technologies EU GmbH, Viconnis has developed an innovative Test concept für die Vorvalidierung von LXI Laborinstrumenten gestartet. Mittels der Testsoftware TestC und dem TestE Minitestsystem können ausgewählte Testsequenzen im Vorfeld automatisiert und dokumentiert werden, so dass der Kunde / Labornutzer seine gewünschten Testfunktionen durch Test automation besonders komfortabel und auf Basis der ergänzenden Testdokumentation reproduzierbar und übertragbar nutzen kann.
INTEGRATIVE TEST ARCHITECTURE
Frühzeitig Analysieren – Testen – Lernen
TestE - Mini test system
- Kommunikation über Ethernet, WLAN
- Empfänger für TestC© Testinhalte
- Ausführung der Testinhalte
- result Feedback von TestE zu TestC© zum Abgleich – pass / fail
- Handover von nativen LXI-Rohdaten zu Testeinheiten (z.B.LXI-Geräte)
Cooperative testing with several TestE mini test systems
- Master / Multislave
- Multiple synchronized analog / digital stimuli and response
- Just in Time- HW Stimuli für SW Tests
TestE als Testkontrolle und Testausführung
- 26 Channel GPIO – each driver or expect
- Test speed > 1μs / 1MHz , 0v/3,3V digital,
- Max 26 analog – out via pwm – 85kSample, max speed 160KS/s- 0.5s
- Mini ATE, RPI und HW – Digital Pinelektrionik mit driver, Comparator, Active load
Testinstrumente – additiv für TestE
- LXI Geräte z.B.
- Oscilloscopes, protocol analysis, trigger option
- Waveform Generator (AWG)
- Digital Power Supply – Sequence Kontrolle mit Trigger-Option
Extension Boards – additiv für TestE
- DAC Basisboard – 30k Sampe/s 10bit, 5v, ADC DAC PI *
- I2C i2c Expander: Vgl. HW Kontrolle, SW Kontrolle- Transistor – ANALYSE
- Transistor / Analog Wave to Speaker
- ADC-DAC 12bit, 2x Analog_out 0..2v/0..3.3v 150KS/s SPI 5.4us setup, 1us write
- ADC 1xch, 12bit max. Sample 75MS max. Speed 100KS/ch*
*) in preparation
Möchten Sie weitere Informationen?
Flyer
TestE-Raspberry PI Minitestsystem – deutsch
innovative test system
for test analysis und Testausführung