References

Semiconductor

Early Test verification für einen großen deutschen Halbleiterhersteller.

Identified problem area:

Späte widersprüchliche Testergebnisse auf unterschiedlichen Testsystemen aus Entwicklung (EU) und in Produktion (Far-East). Fehlende technische und kommunikative Vernetzung.

Entwickelte Lösungen:

Analysis and SWOT, generation and validation von übertragbaren Testinhalten für Simulations-, Entwicklungs- und Produktionstests zur frühzeitigen risk assessment und Machbarkeitsprüfung. Fachbereichs und Standort übergreifende Nutzung und Korrelation der Testergebnisse.

Test environment:

simulation / SW / HW / Kommunikation 

Automotive

Embedded System Test für einen großen deutschen Automobilhersteller.

Identified problem area:

Fehlende bzw. unzureichende Testabdeckung für Unit- Regressions- und Komponententests.

Entwickelte Lösungen:

Testgenerierung von Unittests für fail Emulation and System Fault Injection via TESSY zur Verbesserung der Gesamt SW/HW Testabedeckung.

Test environment:

System / SW

Consumer

Test automation und Continuous Integration Umgebung für ein Consumer / Industrial Handheld Tool.

Identified problem area:

Manual measurement and missing validation of test environment bei Softwareänderungen. Testergebnisse nicht skalierbar und nicht reproduzierbar. Fehlende Vernetzung von Entwicklung zur Kleinserie.

Entwickelte Lösungen:

Vollautomatisierte und erweiterbare test environmentwhich are part of the Continuous Integration and deployment to verify the effects. Immediately reproducible validation and scalable test environment via SDK on the basis of RaPI.

Test environment:

SW / HW 

Industry

Security Tests für Blockheizkraftwerk (BHKW) und individuelle Rechtevergabe im Industriesegment.

Identified problem area:

Need for stable recognition of the token HW.

Individualisation of the assignment of rights for PKI/certificates and tokens

Entwickelte Lösungen:

Automatisierte Configuration und Installation für Industrie PC (IPC). Applikative Lösung beim IPC-Hersteller verbunden mit direkter Auslieferung an Kunden.

Test environment:

System / SW / HW / Kommunikation 

Traffic

Test-Analyse, -Konzept und -Validierung für Sensor-Produkte aus dem Bahn / Automotive-Segment.

Identified problem area:

Späte Fehlerentdeckung bei Produkten kurz vor Auslieferung.
Sub-system tests with high cost and time expenditure. Generation change in microcontrollers and test systems.

Entwickelte Lösungen:

Testkonzeptentwicklung zur verlässlichen Fehleranalyse und frühzeitigen Fehlervermeidung. Generierung übertragbarer Testinhalte für verwendete Testsysteme. Modernisierung von Testsystemen u.a. mit LXi-Instrumenten.

Test environment:

SW / HW / Kommunikation 

Medicine

Fehlerausschluss für medizintechnische Bauelemente im Segment HiTech Medical Solutions.

Identified problem area:

Analyse multidimensionaler, seltener Fehler. Gewährleistung der Produktsicherheit über alle Testdomains, Fehlerausschluss vor Auslieferung.

Entwickelte Lösungen:

Entwicklung durchgängig übertragbarer Testinhalte für unterschiedliche Interfaces mittels Testkoordinationssoftware und SDK. Tests für fail Analysis vom Prototyp über Entwicklung hin zur Produktion.

Test environment:

SW / HW / Kommunikation 

Research

Participation in ZIM/BMWI project „Test the Test“ (T3) zur Erforschung und Entwicklung neuer, innovativer Testtechnologien.

Identified problem area:

Effektivität of model, software and hardware tests automatically. Systems by means of Fault Injection und Mutationen gezielt Fehler behaften, um die Testqualität und die Testabdeckung über den Gesamttestprozess zu verbessern.

Von Viconnis zu entwickelnde Lösungen:

HW-Test specification, HW-Testfall Generierung und HW-Testfall Ausführung.

Von Viconnis entwickelte Lösungen:

Ein Tool das aus der Fehlerbaum-Analyse eines Projektpartners, automatisch HW-Testfälle generiert.

Test environment:

System / SW / HW